Курсовая работа студента 1-го курса
Геологического факультета кафедры петрологии
Московского Государственного Университета им. М.В.Ломоносова.
Обносова Юрия Борисовича

Тема: "Методы локального анализа вещества."

2001 г.

Оглавление>>

3. Синхротронный рентгенофлюорисцентный анализ (XRF).

    Этот метод появился сравнительно недавно, ему не больше 10 лет. На данный момент является весьма перспективным и происходит активное внедрение его на практику.

    В этом методе сильный рентгеновский пучок используется для возбуждения характеристических рентгеновских лучей из образца. Этот пучок испускается из синхротрона, поэтому он может быть более, чем в 10 раз интенсивнее обычного лабораторного генератора и чувствительность его гораздо выше.

    Для получения данных анализируется спектр вторичного рентгеновского излучения, возбуждаемого первичным рентгеновским излучением достаточно высокой энергии. В качестве детекторов излучения используют два типа энергодисперсионных датчиков или детекторов анализирующие распределение регистрируемого излучения по длине волны.

    1) К первому типу относятся литиево-кремниевые диоды, преобразующие рентгеновские кванты в пропорциональные их энергии импульсы напряжения. Эти детекторы дают разрешение линий 150 - 170 эВ.

    2) Во втором типе детекторов используется кристалл-анализатор, ориентируемый до положения, соответствующего достижению максимального отражения. Отраженное от образца излучение регистрируется газовым пропорциональным счетчиком квантов. Разрешение метода составляет 5 - 10 эВ, однако единовременно возможно регистрировать только один пик.

    Метод синхротронного рентгенофлюорисцентного анализа позволяет получать качественную и количественную информацию о химическом составе вещества. В случае исследования многослойных структур необходимо учитывать, что вторичное рентгеновское излучение испускается из слоев, расположенных как вблизи исследуемого участка поверхности, так и на глубине.

Следующая>>