Основным аналитическим методом изучения химического состава минералов, твердофазных и расплавных включений в них являлся микрозондовый анализ, проводимый при помощи энергодисперсионной микрозондовой приставки LinkSystem10000 к электронному сканирующему микроскопу CamScan4DV кафедры петрологии МГУ. Для химического анализа использовался режим отраженных электронов при стандартном рабочем напряжении 15 кВ. Все фотографии минералов и включений в них выполнены во вторичных электронах при напряжении 20 кВ. При анализе минеральных фаз и расплавных включений определялись основные петрогенные компоненты: Si, Al, Ti, Fe, Mn, Mg, Ca, Na, K, а также в некоторых случаях анализировались Cr, Ni, P, Cl, S. Минералы анализировались в "точке" (фокусировка пучка - 3х3 микрона), для анализа стекол сканировалась площадка не менее 12 мкм во избежание потери щелочей (K и Na).

Относительные ошибки при микрозондовом анализе составляют: при содержании элемента от 1 до 5% - 10% отн., от 5 до 10% - 5% отн., а при содержании более 10% - 2% отн. Относительная ошибка для анализов К в стеклах была оценена по измерениям эталонов (эталонное стекло Ярозевича N30-2) и составляет не более 15% отн.

Было изучено под микроскопом около 700 отдельных зерен оливина, клинопироксена и ортопироксена, представляющих собой крупные вкрапленники (0.5 - 2 мм) из образцов, отобранных для детального изучения. Всего на микрозонде было сделано более 480 анализов стекол и минералов. Часть анализов была пересчитана по межлабораторным коэффициентам (поправкам) для удобства сравнения данных, полученных на микрозонде кафедры петрологии МГУ и на волновом зонде в ГЕОХИ РАН.

Ионный зонд. Анализы гомогенизированных расплавных включений на содержание элементов-примесей (Li, Be, B, Cr, Sr, Y, Zr, Nb, Ba, La, Ce, Nd, Sm, Eu, Dy, Er, Yb, Th) и Ti проводились методом вторично-ионной масс-спектроскопии (ионного зонда) на приборе Cameca ims-4f в Институте микроэлектроники и информатики РАН г. Ярославль. Для анализа применялась методика энергетического фильтра при следующих условиях: размер первичного пучка ионов О₂^- - 20 мкм, ток 5-7 нА. Концентрации элементов определяются на основе отношений соответствующих изотопов к ³⁰Si по калибровочным кривым, построенным для стандартов стекол. Погрешность определения концентраций примесных элементов составляет менее 15% отн. для содержаний 0,1-100 ppm (Соболев, 1996). Содержания воды определялись по массе ¹Н. На ионном зонде было проанализировано 5 РВ.

Назад  Далее