Все о геологии :: на главную страницу! Геовикипедия 
wiki.web.ru 
Поиск  
  Rambler's Top100 Service
 Главная страница  Конференции: Календарь / Материалы  Каталог ссылок    Словарь       Форумы        В помощь студенту     Последние поступления
   Геология >> Геохимические науки >> Минералогия | Рефераты
 Обсудить в форуме  Добавить новое сообщение

Курсовая работа студента 1-го курса
Геологического факультета кафедры петрологии
Московского Государственного Университета им. М.В.Ломоносова.
Обносова Юрия Борисовича

Тема: "Методы локального анализа вещества."

2001 г.

Оглавление>>


2. Электронный микроанализ (EPMA).

2.1. Просвечивающий электронный микроскоп.

    Просвечивающий электронный микроскоп по своей структуре очень похож на световой микроскоп. В этом приборе в качестве исследовательского зонда вместо световых лучей используется тонкосфокусированный пучок быстро летящих в вакууме электронов. Электроны разгоняются в Электронной пушке с помощью ускоряющего напряжения, измеряемого кило- и даже мегавольтами, роль анода играет сам образец. В ПЭМ вместо стеклянных или кварцевых линз используются электромагнитные линзы - электромагнитные катушки с током. Длина волны электронов исследовательского пучка в ПЭМ в сотни тысяч раз короче световых волн. Это означает, что разрешающая способность ПЭМ (минимальное расстояние между двумя точками микрообъекта, на котором они еще видны в микроскопе раздельно) в такое же количество раз больше, чем у оптического микроскопа, и для современных приборов составляет 1,4 ангстрема (1 ангстрем = 10-10 м). Увеличение ПЭМ может достигать нескольких сотен тысяч, а иногда и миллионов раз.

    Принцип работы ПЭМ аналогичен просвечивающему оптическому микроскопу, когда пучок электронов проходит через тонкие минеральные частицы. При этом электроны сильно рассеиваются и поглощаются веществом частиц, вследствие чего на экране конечного изображения, располагающемся под образцом, можно наблюдать теневое изображение микрообъекта.

 

2.2. Растровый электронный микроскоп.

    Принцип действия растрового электронного микроскопа (РЭМ) основан на анализе вторичных электронов, которые испускаются с поверхности образца при взаимодействии разогнанных электронов с веществом. Эти электроны, так же как и в ПЭМ индуцируются электронной пушкой. Вторичные электроны выходят из образца под некоторым углом, который для каждого вещества разный. По этому углу и определяют состав образца. При этом при формировании изображения поверхности изучаемого объекта положен способ телевизионной развёртки. Что и дало название методу.

 

2.3. Первичный рентгеновский анализатор.

    Этот метод основан на использовании первичного рентгеновского излучения для качественного и количественного анализа вещества. Это излучение образуется при торможении электронного пучка в электромагнитном поле. Для создания стабильного потока электронов необходим высокий вакуум (10-5 мм.рт.ст.), поэтому на первичном рентгеновском анализаторе возможно изучение только твёрдых тел. Он может определять элементы из таблицы Менделеева от бора (Z=5), до урана (Z=92).

Следующая>>


 См. также
КнигиУчебник по экспериментальной и технической петрологии: локальные методы анализа
КнигиУчебник по экспериментальной и технической петрологии: Точность химического анализа

Проект осуществляется при поддержке:
Геологического факультета МГУ,
РФФИ
   
TopList Rambler's Top100